YD/T 2284-2011《终端光组件用光纤带》是一项中华人民共和国通信行业标准，该标准规定了终端光组件用光纤带的结构、型号、技术指标、试验方法、检验规则以及包装、运输和贮存要求。
一、范围：
本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的一般要求和详细要求，包括:试验目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。
本标准适用于通信用光电子器件，包括但不限于激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及由它们组成的组件或模块，简称“光电子器件”。其他领域的光电子器件也可参照使用。
二、试验项目：
热冲击试验、高低温试验、温度循环试验、恒定湿热试验等。
三、试验设备：
恒温恒湿试验箱、冷热冲击试验箱、高温老化箱等。
四、文档获取：
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.jpg "《YD/T 2342-2011 通信用光电子器件可靠性试验方法》标准(图1)")
五、试验程序（部分）：
高温寿命试验：
试验条件如下:
试验温度:(85士2)℃(不限于):
工作偏置:正常工作偏置（不限于);
试验时间:5000h（不限于)。
试验程序如下:
a)试验前应对试样的主要光电特性进行测试;
b)将试样放进高温试验箱内，并使样品处于工作状态;
c)按照试验条件开始试验，记录起始时间、试验温度和样本数;
d)使用监视仪器，从试验开始到试验结束监视试验温度和工作偏置，以保证全部试样按条件施加应力;
e)在中间测试时将样品从高温试验箱取出，测试完成后放回高温试验箱继续进行试验。
检测
一般每168h在常温下测试一次光电特性。在测试前应先去掉偏置，然后冷却到室温后进行测试。
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