LED灯恒温恒湿试验系统可用于LED芯片、LED封装、紫外芯片、半导体、光耦、二极管、VCSEL等产品的老化试验，整套老化系统由1台可程式恒温恒湿试验箱搭配两台程控多通道老化电源，每台电源提供40个老化端口，整套系统共提供80PCB端口。
技术参数：
试验原理：
通过老化排线连接程控多通道LED老化电源与环境试验箱，老化排线一端(36p连接器端)插在程控电源输出端口，另一端(金手指端)通过试验箱进线孔进入箱体内，固定在高温老化治具上。
进行老化试验时候，只需将老化板插在试验箱内金手指上，设置相应实验参数即可开始试验。
主要试验参数：
产品特点：
(1)可通过弹性海绵增加试剂管与固定环之间的摩擦力，对试剂管具有夹紧的作用，避免对试剂管内部的液体做实验的过程震动使得试剂管出现倾斜和倒塌的情况，以利于试剂管内部液体实验工作的开展；
(2)换气管的内壁与堵塞条的外壁均为螺纹状布置，便于使用者对换气管的打开和堵塞，亦可通过换气管调节LED试验箱本体内部的气体转换速率，避免LED试验箱本体的内部产生异味，并且密封圈能够增加换气管与堵塞条之间连接的密封性能，避免LED试验箱本体的内部在进行加温加湿的过程中发生泄露情况；
(3)在引尘板的引流作用下，可将灰尘顺利引流至防尘框中，并且尘框对灰尘具有集中收集的作用，以利于使用者对灰尘的后续处理，不易让灰尘黏附在箱体的顶端。
如有LED灯恒温恒湿试验系统的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
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