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光储逆变电源高温老化室基于Peck模型下的可靠性验证

文章出处 : 技术知识 文章编辑 : 环仪仪器 阅读量 : 发表时间 : 2025-09-26

光储逆变电源(光伏逆变器)是一种由半导体器件组成的电力调整装置,主要用于把直流电力转换成交流电力。由逆变器使用环境和失效机理分析,仅仅采用单一温度、湿度和电应力的单应力加速模型不能适用于该型产品。

为了验证逆变器较高的可靠性指标,综合考虑样品成本、数量和试验周期等经济、时效和可行性因素,选用温度-湿度(Peck)模型双应力寿命加速模型,并基于此加速模型进行可靠性鉴定试验,逆变器试验样本量选为10台。以下是逆变器的可靠性验证内容。

试验设备:环仪仪器 光储逆变电源高温老化室

光储逆变电源高温老化室基于Peck模型下的可靠性验证(图1)


试验样品:10台逆变器

试验模型:温度-湿度(Peck)

可靠性验证过程:

加速试验剖面的确定:

结合逆变器在使用的温度、湿度环境,基于加速损伤理论选定的逆变器加速寿命模型符合Peck温-湿应力模型,该寿命-应力模型是由温度模型和湿度模型相乘耦合的双应力综合模型,即:

光储逆变电源高温老化室基于Peck模型下的可靠性验证(图2)


光储逆变电源高温老化室基于Peck模型下的可靠性验证(图3)

式中:

t-失效前时间;

A-常数;

RH-相对湿度,单位为%;

n-常数;

Ea-激活能,单位为eV;

k-波尔茨曼常数,取值为8.617×10^-5eV/K;

T-绝对温度,单位为K。

加速因子的确定:

针对逆变器的硬件组成以半导体和IC器件为主,IC器件常见故障的激活能一般在0.8~1.0 eV之间。结合类似电力电子产品研发的工程经验及标准推荐,本次产品激活能取Ea=0.9 eV。

n的范围在1~12之间,取典型值n=3。则加速因子为:

光储逆变电源高温老化室基于Peck模型下的可靠性验证(图4)

式(2)中:

RHu—常规运行下的百分比相对湿度,RHu=85%;

RHs—加速应力下的百分比相对湿度,RHs=95%;

Tu—常规运行下以K表示的温度,Tu=308.15;

Ts—加速应力下以K表示的温度,Ts=338.15;

K—波尔茨曼常数,取值为8.617×10^-5eV/K。

统计方案:

为了快速地验证该型逆变器可靠性指标是否达到分配指标,综合考虑确定使用方风险β为30%,选择试验统计方案号为GJB899A—2009标准附录A中图A.24方案号30-1,拒收故障数为1。

如下表计算所示,当10台逆变器试验样品按照上述试验应力剖面进行加速试验时,出现1次责任故障或时间累计达到2 124.739 h时(两者优先满足其一即可),即判决该逆变器通过可靠性鉴定。

光储逆变电源高温老化室基于Peck模型下的可靠性验证(图5)

可靠性试验结果:

加速试验后,根据逆变器试验记录统计,经过筛选后的10台逆变器同时开始试验,在设定的加速试验剖面下加速运行至261.5h,责任故障数r=0结束试验,则10台逆变器累计试验时间2 615 h,0失效,判为接收,通过试验。

对本次试验全过程进行统计,总的试验时间为T,责任故障数为r,根据GJB 899A-2009“A.5.4.4”可知,定时试验的验证区间,估计值和区间估计值的计算公式为:

光储逆变电源高温老化室基于Peck模型下的可靠性验证(图6)


由于r=0,无法得到点估计值和置信上限,仅能进行置信下限的估计。此处采用一种简便的MTBF置信下限的估算方法:

使用方风险β=30%时,总试验时间为T=2 615 h,本次试验逆变器计算出的MTBF置信下限:

光储逆变电源高温老化室基于Peck模型下的可靠性验证(图7)


又结合加速因子,推导出常规运行环境下该型逆变器的MTBF置信下限:

光储逆变电源高温老化室基于Peck模型下的可靠性验证(图8)


由此可知,在等效2 615 h可靠性试验结束时,在70%置信度下逆变器MTBF的置信下限值为61 328 h,符合逆变器分配的可靠性指标MTBF≮50 000 h的要求。

以上就是光储逆变器Peck模型下的可靠性验证过程,如有试验疑问,可以咨询环仪仪器相关技术人员。



文章标签 : 逆变器老化柜

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