冷热冲击试验热流仪可进行温度冲击试验测试，能提供精确的设置要求，可用于研究电子元件的热阻，还可对电子元件进行温度循环和热冲击试验。可作为电子元件和材料表征的方法之一，符合MIL-STD883&750和JEDEC标准。下面，我们来看看相关试验要求。
冷热冲击试验热流仪试验要求：
试验设备：环仪仪器 冷热冲击试验热流仪
试验标准和要求：
一、MIL-STD 750
选用条件C的示例：循环次数≥20次。2步(1步降温1步升温)；温度转换时间小于1分钟；恒温时间超过10分钟。如下图
二、MIL-STD 883 方法1010温度循环：
选用条件C的示例：循环次数≥10次；2步(1步降温1步升温)；温度转换时间小于1分钟；停留时间超过10分钟。如下图
三、JESD：
循环次数取决于浸泡时间；2步(1步降温1步升温)；温度转换时间小于1分钟；停留时间超过30分钟。如下图
试验特性：
1.调节精度小于0.1℃，空气流量控制范围为22~8.4l/s。
2.快速升/隆温速率为非线件控制，由-55℃升至+125℃的时间为7s、+125C隆至-80℃的时间为14s。
3.温度转换所需时间范围为0.03~20℃/s。
如有冷热冲击试验热流仪的使用的使用疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
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