交换机温度循环试验箱（TCT）是用于模拟高低温交变环境的可靠性测试设备，主要通过反复暴露于设定温度来加速评估网络交换机及其端口（RJ45接口、光模块等）的耐温度变化的能力与抗老化性能。
技术参数：
主要用途：
1.评估RJ45网络端口、SFP/QSFP光模块接口在冷热交替时是否会出现接触不良或信号衰减。
2.测试交换机主板、IC芯片等元器件在极端温度循环下的抵抗力，避免因热胀冷缩导致潜在缺陷暴露。
3.满足光通信产业及各类商规/工规电子设备的可靠性验证需求。
产品特点：
1.升温速度快，温度波动小，满足快速老化实验需求。
2.箱体内部温场均匀好，不影响测试结果一致性。
3.实现大批量交换机同步老化。
测试方法：
1）低温：低温工作温度-40℃，保持时间为3h;
2）高温：高温工作温度85℃，保持时间为3h;
3）温度变化速率：5℃/min
4）循环次数：2次。
试验期间设备连续通电，被测设备连接网络测试仪，两两端口以满速率互发测试数据包。
如有交换机温度循环试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
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