无源器件高低温贮存试验箱是评估透镜，隔离器，耦合器，分光器等无源器件，在贮存和运输环节的质量稳定性与可靠性的关键检测设备。它通过模拟高温软化、低温脆化及冷热交变等气候环境，检验元器件的性能指标是否达标。
技术参数：
试验的主要目的包括：
1.验证器件在高温贮存环境下的耐热性能；
2.验证器件在低温贮存环境下的耐寒性能；
3.评估温度环境对光电参数的影响；
4.检验产品结构及封装可靠性；
试验条件：
高温贮存温度：（85±2）℃或最高贮存温度；贮存时间：2000 h。
低温贮存温度：（-40±2）℃或最低贮存温度；贮存时间：72 h。
无源器件高低温贮存试验的意义：
光电子无源器件通常由光学玻璃、陶瓷、金属封装件及精密粘接材料组成。当器件长期处于高温环境时，材料可能发生软化、老化或性能衰减；而在低温环境下，则可能出现脆化、收缩甚至结构应力损伤等问题。
通过高低温贮存试验，可以有效评估器件在极端环境条件下的耐受能力，验证其是否满足产品设计要求和行业标准，从而保障产品在运输、仓储及最终使用阶段的性能稳定性。
如有无源器件高低温贮存试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪相关技术人员。
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