储能逆变器由多个IGBT模块组成，根据 IGBT 在电力电子变流装置中的故障类型，可以以将 IGBT 故障分为 2 类，即突发故障和老化故障。老化故障过程缓慢且不易察觉，因此，试验室需要进行加速老化试验，提前发现问题，做出改善。
下面，我们对使用不同IGBT模块组成的逆变器做加速老化试验研究，下面是研究的主要内容。
储能逆变器老化试验验证：
试验设备：环仪仪器 储能逆变器老化试验柜
逆变器IGBT模块：FF600R12ME4、FF450R12ME4、FF300R12ME4、FF225R12ME4P
试验过程：
储能逆变器加速老化试验选用 6 个编号为 T1~T6 的 IGBT，在试验期间实时收集关键电气参数，直到器件失效。为保证试验时温度的一致性，将加速老化试验储能逆变器放入老化试验柜中进行试验。试验后，不同模块的储能逆变器结果如下所示。
表1. FF600R12ME4
表2. FF450R12ME4
表3. FF300R12ME4
表4. FF225R12ME4P
试验结果分析：
表 1~ 表 3 试验结果表明， 当老化试验柜温度为 10 ℃时，VCE-sat 初始值在 1.75 V 附近， 并最终在 2.03 V 附近失效 ； 当老化试验柜温度为 40 ℃时， VCE-sat 初始值在 2.00 V 附近， 并最终在 2.32 V 附近失效。
表 4 试验结果表明，当老化试验柜温度为 10 ℃时， VCE-sat初始值在 1.85 V 附近， 并最终在 2.15 V 附近失效 ； 当老化试验柜温度为 40 ℃时， VCE-sat 初始值在 2.10 V 附近， 并最终在2.44 V 附近失效。
试验总结：
试验结果表明， 在芯片温度波动范围较大的情况下， 其老化周期相对较短， 老化速度相对较快； 当结温Tj 较大时， 对应的 IGBT 循环周期变短， 寿命也变短。 原因是温度越高， 芯片所受热应力越强， 导致铝线键合线发生脱落、 焊料层开裂现象发生概率增加， 并且随着功率循环周期增加， VCE-sat 也逐渐升至临界值。 试验期间实时收集关键电气参数， 直到器件失效。
以上就是储能逆变器老化试验研究，如有试验疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
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