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光芯片高温寿命试验箱
2026-07-08
光芯片高温寿命试验箱用于确定光电子器件、光芯片、光模块等光电器件的高温加速老化失效机理和工作寿命。技术参数:试验条件:试验温度:(852)℃(组件或模块),或(…
高温烘箱
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