LD激光器芯片温度测试设备

LD激光器芯片温度测试设备是针对半导体DFB或EML激光器在常温、高温、低温三个不同温度下进行的光电特性LIV扫描测试、EA扫描测试、光谱扫描测试。

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LD激光器芯片温度测试设备是针对半导体DFB或EML激光器在常温、高温、低温三个不同温度下进行的光电特性LIV扫描测试、EA扫描测试、光谱扫描测试。设备支持激光器前向、后向光电测试、前向光光谱测试以及不同温区的测试。

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