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PCIE M.2老化测试板


PCIE M.2老化测试板一拖八，专业用于NVME盘常温到高温带电测试。
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产品详情

PCIE M.2老化测试板一拖八，专业用于NVME盘常温到高温带电测试。

功能介绍
测试产品通道数量8 Port
接口M.2,NVME,U.2,U.3,AIC
测试项目常温到高温带电测试

供电电压DC12V
环境温度-10 ~ 80（误差+/-2%）
可扩展测试项目监控每通道电压，电流
监控每通道产品功耗
时钟延时
复位测试


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