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厂家动态 技术知识 常见问题 相关标准
光模块LD芯片测试机
光模块LD芯片测试机
2026-06-04
光模块LD芯片测试机用于对LD芯片的电气和光学特性进行检测、判定与分选。该产品具有测试速度快、温控精度高，测试数据的再现性和相关性稳定可靠、数据准确等优点。技术…
LD芯片温度测试设备
LD器件高低温测试台的Burn-in高温老化测试
LD器件高低温测试台的Burn-in高温老化测试
2026-06-03
半导体LD激光器芯片是光纤到户网络架构中的核心器件，但它的寿命和可靠性成为制约其发展的重要瓶颈。目前的有效方法是对半导体激光器进行早期失效的评估，采用 Burn…
LD芯片温度测试设备
LD激光芯片温度试验系统对LD芯片的高温失效分析
LD激光芯片温度试验系统对LD芯片的高温失效分析
2026-06-03
半导体激光器(Laser Diode，简称LD)是以半导体材料为工作物质的一类激光器，为检测LD芯片，需要使LD芯片与光纤耦合，在LD激光芯片温度试验系统进行常…
LD芯片温度测试设备
LD激光芯片测试设备
LD激光芯片测试设备
2026-06-03
LD激光芯片测试设备是一款用于光电LD芯片光电性能检测，可测试长波长激光器芯片的低温、常温、高温条件下的前光、背光的LIV参数和光谱参数。设备自动化程度高，图像…
LD芯片温度测试设备
激光器芯片双温测试台的高温测试方案
激光器芯片双温测试台的高温测试方案
2026-06-02
在半导体激光器芯片生产过程中，老化试验（Burn-in Test）是筛选早期失效器件、提高产品可靠性的重要环节。下面，我们来看看激光器芯片是怎么做高温测试的。激…
LD芯片温度测试设备
LD芯片双温区测试设备的模组功能介绍
LD芯片双温区测试设备的模组功能介绍
2026-06-02
激光器（LD）芯片亦称激光芯片，无论是小功率的激光发射器还是要求较高的激光通信芯片，都需要在LD芯片双温区测试设备火种进行芯片的老化和可靠性的测试。LD芯片双温…
LD芯片温度测试设备
LD芯片老化测试系统
LD芯片老化测试系统
2026-06-02
激光器芯片低温测试系统是针对半导体 LD 激光器在低温、常温、高温三个不同温度下进行的光电特性 LIV 扫描测试、光谱扫描测试参数测试。集光、机、电、软、算于一…
LD芯片温度测试设备
LD芯片温度试验系统的特点简介
LD芯片温度试验系统的特点简介
2026-06-01
LD芯片温度试验系统是针对半导体 LD 激光器在低温、常温、高温三个不同温度下进行的光电特性 LIV 扫描测试、光谱扫描测试参数测试。下面，我们了解LD芯片温度…
LD芯片温度测试设备
激光器芯片高低温测试系统的结构讲解
激光器芯片高低温测试系统的结构讲解
2026-06-01
激光器芯片高低温测试系统的整个架构设计为分为上料区，两个可以设定不同温度的测试区，搬运机构，以及下料区组成。下面，我们对这几个主要结构做个简单介绍。产品名称：环…
LD芯片温度测试设备
LD芯片温度测试设备
LD芯片温度测试设备
2026-06-01
LD芯片温度测试设备是针对半导体DFB或EML激光器在常温、高温、低温三个不同温度下进行的光电特性LIV扫描测试、EA扫描测试、光谱扫描测试。设备支持激光器前向…
LD芯片温度测试设备

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